您需要在系統上安裝NI TestStand和TestStand 半導體模組才能完成任何步驟。
1. 啟動NI TestStand 。
2. 選擇Semiconductor Module » Edit Pin Map File...以啟動Pin Map Editor 。
3. 不要編輯 pin map檔案。點擊Save按鈕以儲存 pin map 檔案。

4. 選擇Semiconductor Module » Edit Bin Definition File...以啟動Bin Definition Editor 。
5. 點擊Add Bin (+) 在Hardware Bins選項卡上增加新的hardware bin。
- 將Number設置為4
- 將Name設置為SpecificErrorOccurs
- 將Type設置為Fail
6. 點擊Add Bin (+) 在Software Bins選項卡上增加新的software bin。
- 將Number 設置為4
- 將Name設置為SpecificErrorOccurs
- 將Hardware Bin設置為SpecificErrorOccurs
- 將Type設置為Fail
7. 點擊Save按鈕以儲存 bin definition file。
8. 向MainSequence插入一個Statement步驟。
- 在“Properties”選項卡上的“Name”文字框中鍵入“Create a Specific Error”
- 在“Expression”選項卡的“Expression”文字框中鍵入 Step.Result.Error.Code = 1234,Step.Result.Error.Occurred = True,Step.Result.Error.Msg ="A specific error occurs"
9. 向MainSequence插入一個If步驟。
- 在If Condition選項卡上的Condition Expression文字框中鍵入RunState.Sequence.Main["Create a Specific Error"].Result.Status == "Error"
10. 將Semiconductor Module Step Types中的Set and Lock Bin步驟插入到MainSequence中。
- 從Set and Lock Bin選項卡上的Bin Expression下拉式選單中選擇4 - SpecificErrorOccurs
11. 選擇Edit » Sequence File Callbacks...啟動Sequence File Callbacks 對話框。
12. 選擇SequenceFilePostStepRuntimeError引擎回調並點擊Add。現在,您可以在Sequences窗格中看到SequenceFilePostStepRuntimeError回調。


13. 向SequenceFilePostStepRuntimeError插入一個Statement步驟。
- 在“Properties”選項卡上的“Name”文字框中鍵入“Clear the Specific Error”
- 輸入#NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Occurred) = #NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Code) == 1234 ?False:#NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Occurred),
#NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Msg) = #NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Code) == 1234 ? “”:#NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Msg),
#NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Code) = #NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Code) == 1234 ? 0:#NoValidation(Parameters.Step.Result.Error.Code)在Expression選項卡上Expression文字框中

14. 向SequenceFilePostStepRuntimeError插入一個Statement步驟。
- 在Properties選項卡的Name文字框中輸入Set MainSequence to Fail
- 在Expression選項卡上的Expression文字框中鍵入RunState.Caller.RunState.SequenceFailed = True
15. 完成上述所有步驟後, MainSequnece和SequenceFilePostStepRuntimeError將如下所示。


16. 選擇
Semiconductor Module »
Show Lot Statistics Viewer以啟動
Lot Statistics Viewer視窗。
17. 點擊
Single Test按鈕開始大量測試單個 DUT。