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使用 PXIe-4139 SMU 配置 InstrumentStudio™ 以进行 IV 表征
使用 PXIe-4139 SMU 配置 InstrumentStudio™ 以进行 IV 表征
更新 Feb 18, 2024
环境
环境显示经过验证可用于本文描述的解决方案的产品。此解决方案也可能适用于其他类似产品或应用程序。
硬件
PXIe-4139
软件
InstrumentStudio
在电子和半导体行业中,经常进行 IV 曲线测量,因为它允许工程师对二极管等器件进行故障分析和参数表征。
IV 曲线(“电流-电压特性曲线”的缩写)是电气设备上施加的电压与流过该设备的电流之间关系的图形表示。它是确定电气设备在电路中如何工作的最常用方法之一。一些需要这种测量的设备包括二极管、太阳能电池、LED、晶体管等。
例如,NI PXIe-4139 SMU 与 NI InstrumentStudio™ 2022 一起使用来测量 LED 的 IV 曲线。目标受众是需要对二极管、太阳能电池、LED 和晶体管等设备进行故障分析和参数表征的用户。此示例将展示如何配置 InstrumentStudio™ 单通道扫描,该扫描可扫描配置的电压阶跃并测量相应的电流以进行 IV 曲线测量。
打开 InstrumentStudio™ 并选择下图显示的
Manual layout
。
选择PXIe-4139作为
Large panel
(small panel将无法看到IV曲线)
选择
Single-Channel Sweep,
如下图显示。 (单通道扫描 - 扫描配置的电流或电压阶跃)
将
Function
设置为电压。
例如,
START LEVEL
和
STOP LEVEL
分别设置为 0 和 5 V,
CURRENT LIMIT
为 100mA。
将
POINTS
设置为 5。
单击
RUN
由于点数不足,图形不平滑。由于 100mA 的电流限制,最大电压未达到 5V,电压被限制在 4.12V 左右。
为了看到更好的IV曲线,可以增加点数。将
POINTS
数量增加到 100,会显示更好的结果。
这些步骤展示了如何轻松设置 IV 曲线测量以进行 LED 特性表征。也可以使用其他设备,对设置进行一些修改,例如启动和停止位置。如果 InstrumentStudio™ 能够支持,也可以使用其他型号的 PXIe SMU。
相关链接
PXIe-4139 - NI
什么是InstrumentStudio? - NI
源测量单元和LCR测试仪 - NI
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