在TSM OI中獲取按晶圓而不是按站點的統計資料

更新 Jul 20, 2023

環境

除了每個站點的資料外，TestStand半導體模組（TSM）會收集給定批次的每個晶片的統計資料，但是需要修改TSM操作員介面（OI）來檢索它，以便獨立地可視化或記錄每個晶片的結果。

在LabVIEW中打開<TestStand> \ UserInterfaces \ NI_SemiconductorModule \ LabVIEW \ LVSemiOI.lvproj專案。
找到並打開在 NI TestStand Semiconductor Module Operator Interface.lvlib:Operator Interface State.lvclass的Do Refresh Controls VI
為了顯示每個晶片統計在“All Sites”控制，修改屬性節點在VI獲得WaferAllSiteLotStatistics專案，代替AllSiteLotStatistics。
要顯示在每個站點的控制每片晶圓的統計資料，請用GetWaferSiteLotStatistics VI的GetSiteLotStatistics VI節點，在Dependencies\vi.lib\NI_TestStand_Semiconductor_Module.lvlibp\SemiconductorModuleManager\LotData專案中找到。

TSM OI應該顯示每個晶片資料，而不是每個站點。每個新晶片應重新設置值。

如果要獲取每個站點和每個晶片的資料，而不是替換屬性和VI，只需將新的增加到Do Refresh Controls VI中即可。