在TSM OI中获取按晶圆而不是按站点的统计数据

更新 Aug 1, 2023

环境

除了每个站点的数据外，TestStand半导体模块（TSM）会收集给定批次的每个晶片的统计数据，但是需要修改TSM操作员界面（OI）来检索它，以便独立显示或记录每个晶片的结果。

在LabVIEW中打开<TestStand>\UserInterfaces\NI_SemiconductorModule\LabVIEW\LVSemiOI.lvproj项目。
从NI TestStand Semiconductor Module Operator Interface.lvlib:Operator Interface State.lvclass中找到并打开Do Refresh Controls VI 。
为了显示每个晶片统计在“All Sites”控制，修改属性节点在VI获得WaferAllSiteLotStatistics项目，代替AllSiteLotStatistics。
要在每个站点控件中显示每个晶片的统计信息，请使用GetWaferSiteLotStatistics VI的GetSiteLotStatistics VI节点，该节点从Dependencies\vi.lib\NI_TestStand_Semiconductor_Module.lvlibp\SemiconductorModuleManager\LotData项目中找到。

TSM OI应该显示每个晶片数据，而不是每个站点。每个新晶片应重新设置值。

如果要获取每个站点和每个晶片的数据，而不是替换属性和VI，只需将新的添加到Do Refresh Controls VI中即可。