고스팅 현상을 해결하려면 다음 단계를 완료하십시오.
당신의 샘플에 원하지 않는 신호가 간섭을 하는 경우가 있습니다. 이를 테면, 다른 주파수 대역의 신호가 들어오거나, 단일샘플 측정을 할 때도 오프셋이 있는 경우 신호에 크로스 토크(Crosstalk) 현상을 경험 할 수 있습니다. 크로스 토크 및 문제 해결 단계에 대한 자세한 내용은 이 KB(
예기치 않은 아날로그 입력 채널의 전압 플로팅 또는 크로스 토크) 를 참조하십시오.
Additional Information
왜 고스트 현상이 발생합니까?
채널의 높은 소스 임피던스는 스캔 될 시, 안정 시간(Settling Time)을 증가시킵니다. 아날로그 - 디지털 컨버터 (ADC)의 작은 내부 커패시턴스는 높은 소스 임피던스와 결합하여 로우 패스 필터를 생성합니다. 소스 임피던스가 증가함에 따라, 이 필터의 시정수(Time Constant) 및 그에 따른 안정 시간도 증가합니다. 단순화된 다이어그램은 다음과 같습니다.
![](/servlet/rtaImage?eid=ka03q000000t9vH&feoid=00N3q00000HUsuI&refid=0EM0Z000000W9mP)
멀티플렉서(Multiplexer)가 한 채널에서 다음 채널로 스위칭 할 때, 커패시터 C는 이전 채널의 전압에서 현재 연결된 채널의 전압까지 충전을 시작합니다. RX가 너무 크면, C는 올바른 전압으로 충전 (또는 방전)되지 않습니다. ADC가 측정을 수행할 때, 이전에 스캔 한 채널의 잔해가 나타납니다. 이 올바르지 않은 측정을 고스팅 현상(Ghosting)이라고 합니다. 종종 크로스토크(Crosstalk)라고 잘못 표기되기도 합니다.
예를 들어, R0이 작고 (1 kΩ 미만), 소스 0의 진폭이 2 V이고, 오프셋이 없는 사인파를 가정합니다. 또한, R1이 100kΩ보다 크고, 소스 1이 일정하게 5V로 유지된다고 가정합니다. 각 신호를 개별적으로 측정한다고 할 때, 멀티플렉서는 채널 간 스위칭을 하지 않습니다. 다음의 결과를 보면 알 수 있습니다.
![](/servlet/rtaImage?eid=ka03q000000t9vH&feoid=00N3q00000HUsuI&refid=0EM0Z000000W9mU)
![](/servlet/rtaImage?eid=ka03q000000t9vH&feoid=00N3q00000HUsuI&refid=0EM0Z000000W9mZ)
그러나 두 채널을 모두 스캔하면 사인파가 채널 1로 반사됩니다.
![](/servlet/rtaImage?eid=ka03q000000t9vH&feoid=00N3q00000HUsuI&refid=0EM0Z000000W9me)
RX가 근본적으로 무한한 값을 가지기 때문에 신호가 채널에 연결되어 있지 않은 경우에도 동일한 문제가 발생합니다. 소스 1이 ai1에서 완전히 분리되어 있고, ai0과 ai1이 모두 스캔할 경우 결과는 다음과 같습니다.
![](/servlet/rtaImage?eid=ka03q000000t9vH&feoid=00N3q00000HUsuI&refid=0EM0Z000000W9mo)
높은 임피던스 채널을 스캔하기 전에 접지 된 채널을 스캔하면(커패시터가 접지로 방전됩니다) 고스트 현상이 줄어드는 것은 맞지 않습니다. ADC의 전압이 올바른 수준에 도달하는 데 걸리는 시간은 커패시터의 현재 충전량뿐만 아니라 이전 채널과 현재 채널의 전위차와 관련이 있기 때문입니다. 이러한 이유 때문에 채널 간 전압 스윙을 최소화하기 위해서는 신호를 전위 크기 순으로 배치하는 것이 가장 좋습니다.
접지 (0V)가 다른 스캔 된 채널의 전압보다 높은 임피던스 채널의 전압에서 멀리 떨어지면, 실제로 높은 임피던스 채널이 원하는 수준에 도달하는 데 까지가 더 오래 걸립니다. 높은 임피던스 채널 앞에 채널을 접지하는 것은 높은 임피던스 채널이 다른 스캔 된 채널보다 0V에 더 가까운 경우에만 유용합니다.
예를 들면, 접지 채널이 높은 임피던스 채널에서 정확한 측정을 수행 할수 없도록 스캔되기 전에 채널을 접지합니다. 아래는 낮은 임피던스 채널과 높은 임피던스 채널 사이에 접지 된 채널 (ai2)이 추가된 앞의 예제 그래프입니다. 높은 임피던스 채널의 실제 전압은 5V를 읽어야합니다.
![](/servlet/rtaImage?eid=ka03q000000t9vH&feoid=00N3q00000HUsuI&refid=0EM0Z000000W9my)
위에서 언급했듯이 인접한 채널에서 큰 전압 스윙(큰 채널간 전위 차)은 채널의 전압 안정 시간을 증가시켜 부정확한 측정을 하게 합니다. 두 채널 간 전압 스윙을 줄이려면 정확한 측정 값을 얻으려는 채널 앞에 추가 "Dummy" 채널을 추가할 수 있습니다. 더미 채널을 사용하면 동일한 채널에서 전압을 두 번 읽게 되어 두 개의 후속 채널 간 전압 스윙이 감소하므로 보다 정확한 측정이 가능합니다.
예를 들어, ai0의 전압은 10V이고 ai1의 전압은 2V입니다. ai1 이전에 더미 (ai1_dummy) 채널을 스캔하면 ADC의 전압이 올바른 수준에 도달하는 데 더 많은 시간을 허용하게 되어 ai0와 ai1 사이의 고스트 효과. 가상 "더미"채널은 Measurement & Automation Explorer에서 생성 된 후 아래 그림과 같이 LabVIEW에서 스캔 된 채널 목록에 추가 될 수 있습니다:
![](/servlet/rtaImage?eid=ka03q000000t9vH&feoid=00N3q00000HUsuI&refid=0EM0Z000000W9n3)
모든 채널 (더미 채널 포함)의 총 샘플 속도는 장치의 최대 총 샘플 속도를 초과해서는 안됩니다.