エラー -200545: DAQデバイスでセルフキャリブレーションを実行するとエラーが発生する

問題

MAXで、またはプログラム的にDAQデバイスのセルフキャリブレーションを実行しようとすると、失敗して次のエラーが発生します。
 

エラーコード-200545がDAQmx Self Calibrate.viで発生

考えられる理由:
セルフキャリブレーションに失敗しました。セルフキャリブレーション日付は変更されていません。

外部信号はノイズを発生させる可能性があるので、デバイスから取り外してください。セルフキャリブレーションに使用されるオンボード電圧基準を再キャリブレーションするために、デバイスの外部キャリブレーションを実行してください。

解決策

セルフキャリブレーション中、DAQmxは内蔵基準電圧を読み取り、差異がある場合はキャリブレーション係数（EEPROMに保存されている）を調整します。この係数の範囲は限られており、オンボードの基準電圧と公称基準電圧間に許容範囲以上の差異があると調整することができません。
 

これが原因である場合、MAXで内蔵基準電圧を確認できます。下図は、NI PCI-6036EマルチファンクションDAQデバイスでこの電圧を読み取るように設定されたMAXテストパネルを示しています。
 

この内部チャンネルで読み取られた電圧が公称基準よりも明らかに低い場合、デバイスはセルフキャリブレーションの範囲外、またはデバイスが破損している可能性があります。その場合は、外部校正または修理になります。外部校正に関する詳細については、関連リンクを参照してください。修理サービスの詳細については、修理サービスページを参照してください。
 

デバイスの内部チャンネルが表示されない場合は、Internal Channels Missing from Cards in NI-DAQmxを参照してください。

追加情報

外部校正:
 

A/D変換器（ADC）の性能は、温度、入力電圧、時間、その他の要因によって変化する可能性があるため、校正は重要です。このため、DMMまたはデータ集録デバイスの校正では、これらの要素を考慮する必要があります。
 

DMMまたはDAQデバイスを校正すると、特定の校正定数がボードのEEPROM*メモリに保存されます。これらの定数は、特定の測定電圧に対して適切な値を返すために、ドライバソフトウェア（DAQmx、NI-DMMなど）によって使用されます。ADCが完全に線形の応答を生成することができないため、この技術は非常に重要です。さらに、校正定数は外部校正によって調整することができます。
 

LabVIEWを使用して外部校正を行う方法については、Can I Perform an External Calibration for my DAQ Device in LabVIEW?を参照ください。
 

* EEPROM: パルス電圧を使用して内容を消去および再プログラムできる読み取り専用メモリ。