해결책
하나의 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 공유하면서, 다중 아날로그 입력을 처리하는 DAQ 보드는 채널 스캔과 샘플링 할 채널을 선택 처리하는 두 개의 클럭이 있습니다.
- 샘플 클럭 (NI-DAQmx) / 스캔 클럭 (Traditional NI-DAQ)
이 클럭은 보드에서 샘플링해야 할 때를 판별하는 데 사용됩니다. 스캔이 발생하면 사용자가 선택한 채널이 샘플링됩니다. 스캔은 한 채널 또는 여러 채널에서 가져온 샘플로 구성될 수 있습니다. 스캔 클럭의 주파수는 채널이 샘플링 되는 속도를 결정합니다.
- 변환 클럭 (NI-DAQmx) / 채널 클록 (Traditional NI-DAQ)
이 클럭은 보드상의 여러 아날로그 입력이 하나의 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 공유 할 수 있게 해줍니다. 스캔이 발생하면 변환 클럭을 사용하여 샘플링 할 채널을 전환합니다. 따라서 변환 클럭의 주파수는 샘플 클럭의 주파수보다 몇 배 이상 높아야 합니다. "채널 간 지연(interchannel-delay)"이란 용어는 스캔 중에 채널 간에 이동한 시간을 나타냅니다.
샘플 클럭은 스캔 목록의 모든 채널에서 샘플을 수집합니다. 변환 클럭은 각 개별 채널에 대해 ADC 변환을 발생시킵니다. 그림 1은 멀티플렉싱 된 샘플링을 사용하는 장치의 3 채널 아날로그 입력 작업을 보여줍니다.
그림 1 . 3 채널 용 샘플 클록 및 변환 클록
스캔 클럭 및 채널 클럭은 Traditional NI-DAQ 드라이버에서 이 두 신호를 식별하는 데 사용 된 이름이었습니다. 이 이름들은 NI-DAQmx 드라이버에서 각각 샘플 클럭 및 변환 클럭으로 변경되었습니다.