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自校準與外部校準的區別
自校準與外部校準的區別
更新 Apr 29, 2024
產品資訊
產品資訊中描述經過驗證可以使用本文所述解決方案之產品。此解決方案可能也適用於其他類似產品或應用。
軟體
Measurement & Automation Explorer (MAX)
驅動程式
NI-DAQmx
問題敘述
DAQ
設備或
DMM
的自校準和外部校準有什麼區別?
解決方案
自校準
無需任何外部連接即可進行自校準。該過程涉及將已知的內部參考電壓路由到電路板的所有通道。然後,在不同增益設置的情況下,讀取參考電壓值並和期望值進行比較。最後,校準係數儲存在
EEPROM
記憶體中,作為對增益放大器或
ADC
中類比電路的漂移進行補償。如果板卡的工作環境的溫度發生了明顯的變化,那麼這個校準過程就非常有用。因為零件的性能與工作環境的溫度有很大關係,自校準能夠補償工作環境的溫度劇烈變化所帶來的影響。然而,必須注意到,自校準的準確性僅僅取決於板上參考電壓的準確度。由於參考電壓會隨著時間發生輕微的漂移,定期進行外部校準仍然是非常重要的。
自校準所需時間因設備而異。每個設備的自校準目的是相同的。
外部校準:
外部校準是一個非常複雜的校準過程,它需要一個高精度的電壓源。當進行外部校準時,
EEPROM
裡面的校準常數被撰寫為新的值。當您需要進行高精度測量時,
National Instruments
推薦您每
1–2
年進行一次外部校準(根據板卡不同有區別),因為
ADC
會隨著時間而漂移。此外,當您的板卡工作環境的溫度和校準時的溫度有很大差別時,外部校準也非常重要。如果是這樣情況的話,那麼在板卡的工作環境溫度下進行重新校準就顯得非常重要,它能夠提高測量的精度。
相關資訊
EEPROM
:
一個唯讀記憶體,其內容可以使用脈衝電壓抹除和重新程式設計。
校準非常重要,因為任何給定的類比數位轉換器的性能都可能因溫度,輸入電壓,時間和其他因素而異。因此,校準
DMM
或資料獲取設備必須考慮這兩個因素。
當校準
DMM
或
DAQ
板卡的時候,制定的校準常數儲存在板上的
EEPROM
記憶體中。如果要使用這些校準常數,您必須通過驅動軟體(如
DAQmx
、
NI-DMM
等)對一個給定的測量電壓返回得到一個近似的值。這一技術是非常關鍵的,因為沒有任何一個
類比數位
轉換器(
ADC
)能夠得到一個絕對線性的回應。此外,校準常數可以通過外部校準得到調整。
相關連結
Calibration Services
Manual Calibration Procedures
How to Find the Calibration Interval for an NI Device
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