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DAQ 장비의 연결되지 않거나 열린 채널에서의 잘못된 값 측정
DAQ 장비의 연결되지 않거나 열린 채널에서의 잘못된 값 측정
업데이트 됨 May 19, 2021
해당 제품
이 문서의 해결책을 실행할 수 있는 제품을 보여줍니다. 이 해결책은 다른 유사한 제품 또는 어플리케이션에도 적용될 수 있습니다.
하드웨어
C Series Voltage Input Module
C Series Voltage Input Device
PXI Analog Input Module
PXI Temperature Input Module
Multifunction I/O Device
문의사항
신호 또는 센서에 연결되지 않은 DAQ 디바이스에 하나 이상의 채널이 있거나 디바이스와 컴퓨터의 연결이 끊어졌습니다.
모든 채널이 동일한 값을 읽는 이유는 무엇입니까?
왜 내 채널/신호가 유동적입니까?
개방형 채널이 임의의 값을 읽는 이유는 무엇입니까?
열린 채널이 예상 범위를 벗어난 이유는 무엇입니까?
열린 채널이 불안정해 보입니다.
인접 채널에서 신호를 감지하는 이유는 무엇입니까?
연결된 채널과 연결되지 않은 채널 간에 누화가 발생하는 이유는 무엇입니까?
해결책
NI는 신호가 연결되어 있지 않을 때 디바이스가 읽을 전압을 지정하지 않습니다.
개방 또는 연결되지 않은 채널은 특정 전압으로 능동적으로 구동되지 않으므로 특정 전압이 채널에 나타날 것으로 예상할 수 없습니다. 주어진 채널에서 제로 볼트를 보려면 채널의 + 및-단자에 제로 전압 신호가 적용되어야 하며 이는 채널 접지와 동일합니다. 신호를 0으로 낮추려면 풀다운 저항을 사용할 수 있습니다. 상세한 사항은
아날로그 입력에 풀다운 저항을 사용할 수 있습니까?(Can I Use Pull-Down Resistors for Analog Inputs?)
문서를 참조하십시오.
추가 정보
개방 채널의 전압이 변하는 네 가지 근본적인 이유가 있습니다.
고스팅 현상 - 이전에 스캔한 채널의 전압이 열린 채널에 반영되거나 고스트됩니다. 이것은 오픈 채널의 본질적으로 무한한 소스 임피던스에 의해 발생합니다. 다시 말해, 채널의 +와-단자 사이의 임피던스는 매우 큽니다. 이 높은 임피던스는 채널의 안정화 시간을 크게 증가시킵니다. 자세한 설명은
측정과정에서 생기는 고스팅을 제거하는 방법은 무엇입니까?
을 참조하십시오.
주변 환경에서 발생하는 잡음 및 누화 - 채널이 열려 있고 특정 전압으로 능동적으로 구동되지 않기 때문에 채널에서 전하가 축적될 수 있는 환경 및 기타 요인에 매우 민감합니다. 이로 인해 채널이 뜰 수 있으며 종종 레일 중 하나로 이동합니다.
멀티플렉서에서 전하 주입 - DAQ 디바이스의 멀티플렉서가 한 채널에서 다음 채널로 이동할 때 각 채널에 작은 전하가 유입 될 수 있습니다. 개방 채널에는 이 전하가 소멸되는 경로가 없기 때문에 채널의 전압이 영향을 받습니다. 이로 인해 채널이 뜨는 현상이 있을 수 있습니다.
내부 바이어스 저항 - 일부 DAQ 디바이스에 존재하는 바이어스 저항은 개방 채널의 전압을 끌어와 전압을 변화시킬 수 있습니다.
관련 링크
아날로그 신호: 필드 와이어링, 노이즈
예기치 않은 아날로그 입력 채널의 전압 플로팅 또는 크로스토크
Voltage Readings Changing When I Have Nothing Connected to the Channel?
기타 지원 옵션
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토론 포럼에서 다른 사용자와 공동 작업
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